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Test equipment

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晶圓級燒傷 (WLBI)

Semiconductors; Test equipment

晶圓級燒傷的是某一特定產品在燒作為充分的晶片,利用大規模並行性和較高溫度加速因數的製造技術。

波形生成語言 (WGL)

Semiconductors; Test equipment

WGL 是 de facto 標準 ATPG 和向量生成。大多數模式開發工具支援 WGL 和有專攻 WGL 轉換為各種測試儀本機向量格式的協力廠商工具。

自動內置自我測試 (ABIST)

Semiconductors; Test equipment

1) 記憶體 BIST 嵌入式記憶的表單。2) 一種形式的 BIST 針對測試類比電路。

級別敏感掃描設計 (電平)

Semiconductors; Test equipment

掃描設計使用主從閂鎖,有不同的時鐘階段來隔離掃描的每個節點的類型。

相位交替線 (PAL)

Semiconductors; Test equipment

50 Hz 複合彩色視頻標準,用於在西歐、 印度、 中國和一些中東國家。Seealso NTSC,RS-170。

偽隨機模式發生器 (辦學)

Semiconductors; Test equipment

有時用於前端的 BIST 引擎生成偽隨機模式將提交下測試電路的 LFSRs PRPGs。

系統晶片 (SOC)

Semiconductors; Test equipment

將一個或多個處理器內核、 嵌入式的儲存體、 外設介面和有時混合的信號電路單一晶片,形成一個完整的 (或幾乎完全的) 系統集成的實踐。

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