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Test equipment

Industry: Semiconductors

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低通濾波器
Semiconductors; Test equipment

(1) 操作，使圖像中的細節變得模糊。(2) 電路的衰減類比信號中的高頻元件。

地面
Semiconductors; Test equipment

(1) 具有相同的潛力作為環繞地球的電中性線。通常情況下，用於安全非載流回路。(2) A 共同參考點的電氣系統。

電磁相容性 (EMC)
Semiconductors; Test equipment

(1) 能力的電子設備無干擾造成的退化在預期的電磁環境中經營。(2) 在其電磁環境中操作，而無需創建與其他設備的干擾設備的能力。

圖元
Semiconductors; Test equipment

(1) 基本圖片元素的數位影像。(2) 用來定義圖像中的圖元的水準位置的座標單位。("圖元"是首字母縮略詞為"圖片元素")

雜訊地板
Semiconductors; Test equipment

(1) 級別以下的沒有資料可從一個信號。A 信號雜訊地板下方出現將永久丟失。(2) 的最低的明顯信號，接收器可以檢測到。

雙極性
Semiconductors; Test equipment

(1) 信號包含正值和負值。(2) A 類型的半導體。

verilog 更改轉儲 (VCD)
Semiconductors; Test equipment

Verilog 用於模式生成的輸出。此輸出通常已由測試儀轉化為可讀的格式。這一翻譯過程通常由幾個協力廠商和內部工具。

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