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Test equipment

Industry: Semiconductors

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Test equipment

內置邏輯塊觀察員 (比爾)
Semiconductors; Test equipment

比爾是可以狀態寄存器、 掃描寄存器、 線性回饋移位暫存器或根據它的模式引腳的狀態 MISR 能文能武的邏輯電路。BILBOs 有時用於級聯大型組合邏輯 BIST ...

X.25
Semiconductors; Test equipment

CCIT 標準描述交換資料包網路資料的處理。

單調性
Semiconductors; Test equipment

隨著它的數位代碼輸入類比輸出增加運轉正常 DAC 的特性。

DUT 夾具
Semiconductors; Test equipment

介面測試頭向下測試設備 (DUT) 插座、 探針卡或連接器設備處理常式對於電路板。它已向伴侶 pogo 與墊 引腳上的測試頭針組卡，包括電源端子，信號線。 ...

範圍
Semiconductors; Test equipment

(1) 最大和最小允許全面信號 （輸入或輸出），產生一個指定的性能水準。

連結
Semiconductors; Test equipment

1.(掃描) 資料送入掃描引腳上一個掃描時鐘週期 Ñ 掃描相當於一個平行的向量。

向量
Semiconductors; Test equipment

1.A 平行向量是一個時鐘週期期間應用到 DUT 的功能邏輯。

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