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Semiconductor quality

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耗盡層
Semiconductors; Semiconductor quality

半導體中凡基本上所有載流子已都打掃出來的電氣領域存在的該區域。

破壞性測試
Semiconductors; Semiconductor quality

測試嚴重程度作出進一步的示例使用的有疑問的測試設備。受到的破壞性測試的設備可能無法實際銷毀，但足夠退化不應在任何系統中使用。

三角洲
Semiconductors; Semiconductor quality

應用於一個單元可能會顯示在螢幕的參數漂移的量或系列螢幕 （通常應用於燒傷中） 的限制。

日期代碼
Semiconductors; Semiconductor quality

標識從中選擇了材料的檢驗批的三或四位數位編號。第一次的兩位數位 （或第一個數位為三位數位代碼） 標識，一年，最後兩個星期。通常，代碼根據周的密封檢驗批的第一個小班的日期。 ...

包資料
Semiconductors; Semiconductor quality

驗證和裝運給客戶為舉辦期間的所有各種資料篩選了很多的過程中生成的操作。

資料心煩
Semiconductors; Semiconductor quality

水管爆裂輻射導致的記憶體設備中存儲的資料丟失。輻射要麼導致的寄生回路啟動或存儲的資料狀態的逆轉。

資料檢查
Semiconductors; Semiconductor quality

已從該地段刪除分析和審查後的設備已經讀--記錄和確保已正確地執行所有讀資料和所有的廢品。

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