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Test equipment

Industry: Semiconductors

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Test equipment

無源濾波器
Semiconductors; Test equipment

使用僅被動元件，如電阻器、 電容器、 電感器濾波電路。

消除鋸齒篩選器
Semiconductors; Test equipment

減弱雜訊和高頻元件的類比信號，其轉換成數位值前的篩選器。

帶通濾波器
Semiconductors; Test equipment

一個篩選器，只有那些傳遞信號設置兩個頻率之間的頻率。

鉗位電壓
Semiconductors; Test equipment

固定的電壓耦合二極體或其等效電壓漂移的過渡或當前的供應限制。

硬碟故障
Semiconductors; Test equipment

硬故障是打開一個潛在或設計建模的製造網路上的缺陷影響短路連接。

內置自檢 （LBIST） 的邏輯
Semiconductors; Test equipment

BIST 測試隨機邏輯針對一種形式。通常情況下，這是與 PRPGs 餵養掃描邏輯和輸出連接到 MISRs。所有的商業形式的 LBIST 需要完全掃描的基礎設施。

諧波失真 （高清）
Semiconductors; Test equipment

在類比電路中產生諧波失真的一種形式 （信號的頻率是整數輸入信號的倍數）。它作為單一的諧波對原始信號的水準的比率計算。諧波失真被有關總諧波失真 (THD)，多個級別的原始信號諧波的總和的比例。 ...

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